測試探針按結(jié)構(gòu)如何分類
文章出處:常見問題 責(zé)任編輯:深圳市華榮華電子科技有限公司 閱讀量:- 發(fā)表時(shí)間:2024-04-10 00:00:00
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測試探針按結(jié)構(gòu)如何分類?從結(jié)構(gòu)來看,常見的探針類型主要包括彈性探針、懸臂式探針和垂直式探針。
彈性探針
彈性探針由螺旋彈簧兩端套接在上下柱栓上,螺旋彈簧中間部分緊密纏繞(防止高頻信號(hào)產(chǎn)生附加電感和附件電阻),兩端部分稀疏纏繞(可形變減少彈簧剛度對(duì)測試件的壓強(qiáng)),檢測集成電路時(shí),信號(hào)從下柱栓向上形成導(dǎo)電路徑。
懸臂式探針
懸臂式探針為借由橫向懸臂提供探針針部在接觸待測半導(dǎo)體產(chǎn)品時(shí)適當(dāng)?shù)目v向位移,以避免探針針部施加于待測半導(dǎo)體產(chǎn)品的針壓過大。
垂直式探針
垂直式探針可對(duì)應(yīng)高密度信號(hào)接點(diǎn)的待測半導(dǎo)體產(chǎn)品的細(xì)間距排列,并借由針體本身的彈性變形提供針尖在接觸待測半導(dǎo)體產(chǎn)品所需的縱向位移。
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