常見測試探針的種類和特性
文章出處:常見問題 責(zé)任編輯:深圳市華榮華電子科技有限公司 閱讀量:- 發(fā)表時(shí)間:2022-03-07 00:00:00
標(biāo)簽:半導(dǎo)體高頻探針 開關(guān)探針 ICT彈簧針 ICT頂針 雙頭探針 大電流探針
測試針,用于測試線路板的一種常見的探針,表面鍍金,內(nèi)部有平均壽命3-10萬次的琴鋼線制作成的高性能彈簧,根據(jù)電子測試的用途可分為三種:
1、光電路板測試探針:未安裝元器件前的電路板測試和只開路、短路檢測探針,國內(nèi)大部分的探針產(chǎn)品均可替代進(jìn)口產(chǎn)品;
2、在線測試探針:PCB線路板安裝元器件后的檢測探針;高端產(chǎn)品的核心技術(shù)還是掌握在國外公司手中,國內(nèi)部分探針產(chǎn)品已研發(fā)成功,可替代進(jìn)口探針產(chǎn)品;
3、微電子測試探針:即晶圓測試或芯片IC檢測探針,核心技術(shù)還是掌握在國外公司手中,國內(nèi)生產(chǎn)廠商積極參與研發(fā),有部分產(chǎn)品成功生產(chǎn),可替代進(jìn)口探針產(chǎn)品。
探針主要類型:懸臂探針和垂直探針?! ?/span>
懸臂探針:劈刀型(Blade Type)和環(huán)氧樹脂型(Epoxy Type)
垂直探針:垂直型(Vertical Type)
1.ICT探針 (ICT series Probes) 一般直徑在2.54mm-1.27mm之間,有業(yè)內(nèi)的標(biāo)準(zhǔn)稱呼:100mil,75mil,50mil,還有更特別的直徑只有0.19mm,主要用于在線電路測試和功能測試.也稱ICT測試和FCT測試.也是目前應(yīng)用較多的一種探針。
2.界面探針(Interface Probes) 非標(biāo)準(zhǔn)的探針,一般是為少數(shù)做大型測試機(jī)臺(tái)的客戶定做的,例如泰瑞達(dá)和安捷倫。用于測試機(jī)臺(tái)與測試夾具的接觸點(diǎn)和面。
3.(MicroSeries Probes) 兩個(gè)測試點(diǎn)中心間距一般為0.25mm至0.76mm.
4.開關(guān)探針(Switch Probes) 開關(guān)探針單獨(dú)一支探針有兩路電流。
5.高頻探針(Coaxial Probes) 用于測試高頻信號(hào),有帶屏蔽圈的可測試10GHz以內(nèi)的和500MHz不帶屏蔽圈的。
6.旋轉(zhuǎn)探針(Rotator Probes) 彈力一般不高,因?yàn)槠浯┩感员緛砭秃軓?qiáng),一般用于OSP處理過的PCBA測試。
7.高電流探針(High Current Probes) 探針直徑在2.54mm-4.75mm之間.最大的測試電流可達(dá)39amps?! ?/span>
8.半導(dǎo)體探針 (Semiconductor Probes) 直徑一般在0.50mm-1.27mm之間。
9.電池探針 (Battery Contacts) 一般用于優(yōu)化接觸效果,穩(wěn)定性好和壽命長。