華榮華測(cè)試探針類(lèi)型和探針材質(zhì)作用
文章出處:行業(yè)資訊 責(zé)任編輯:深圳市華榮華電子科技有限公司 閱讀量:- 發(fā)表時(shí)間:2021-05-25 13:57:00
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測(cè)試針,用于測(cè)試PCBA的一種探針。表面鍍金,內(nèi)部有平均壽命3萬(wàn)~10萬(wàn)次的高性能彈簧
探針的材質(zhì):W,CU、A+1。
W:彈性一般,容易偏移,粘金屑,需要多次的清洗,磨損損針長(zhǎng),壽命一般。
A+:A+材質(zhì)的免清針,這種材質(zhì)彈性較好,測(cè)試中不容易偏移,并且不粘金屑,免清洗,因此壽命較長(zhǎng)。
探針類(lèi)型:懸臂探針和垂直探針。
懸臂探針:劈刀型和環(huán)氧樹(shù)脂型
垂直探針:垂直型
根據(jù)探針電子測(cè)試。探針可分為如下三種類(lèi)型:
光電路板測(cè)試探針:未安裝元器件前的電路板測(cè)試和只開(kāi)路、短路檢測(cè)探針,國(guó)內(nèi)大部分的探針產(chǎn)品均可替代進(jìn)口產(chǎn)品
在線測(cè)試探針:PCB線路板安裝元器件后的檢測(cè)探針;高端產(chǎn)品的核心技術(shù)還是掌握在國(guó)外公司手中,國(guó)內(nèi)部分探針產(chǎn)品已研發(fā)成功,可替代進(jìn)口探針產(chǎn)品
微電子測(cè)試探針:即晶圓測(cè)試或芯片IC檢測(cè)探針,核心技術(shù)還是掌握在國(guó)外公司手中,國(guó)內(nèi)生產(chǎn)廠商積極參與研發(fā),但只有一小部分成功生產(chǎn)
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