剖析測(cè)試電路板的種類
文章出處:行業(yè)資訊 責(zé)任編輯:深圳市華榮華電子科技有限公司 閱讀量:- 發(fā)表時(shí)間:2020-08-31 13:55:00
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對(duì)于做測(cè)試的的用戶來(lái)說(shuō),電路板的使用是非常普遍的,那對(duì)于電路板的測(cè)試又了解多少呢?電路板的有多種形式的測(cè)試模式,例如:ICT、ATE、AOI光學(xué)、老化測(cè)試、對(duì)產(chǎn)品的功能測(cè)試、穩(wěn)定度測(cè)試等各種測(cè)試,下面有華榮華的小編告訴大家各種模式的應(yīng)用
1、功能測(cè)試:功能測(cè)試就是對(duì)產(chǎn)品的各功能進(jìn)行驗(yàn)證,根據(jù)功能測(cè)試用例,逐項(xiàng)測(cè)試,檢查產(chǎn)品是否達(dá)到用戶要求的功能。
2、老化測(cè)試:
老化測(cè)試項(xiàng)目是指模擬產(chǎn)品在現(xiàn)實(shí)使用條件中涉及到的各種因素對(duì)產(chǎn)品產(chǎn)生老化的情況進(jìn)行相應(yīng)條件加強(qiáng)實(shí)驗(yàn)的過(guò)程,該實(shí)驗(yàn)主要針對(duì)塑膠材料,常見的老化主要有光照老化,濕熱老化,熱風(fēng)老化。
3、ICT測(cè)試:ICT是In-Circuit Tester 的簡(jiǎn)寫,它是一種利用電腦技術(shù),在大批量生產(chǎn)的電子產(chǎn)品生產(chǎn)線上,測(cè)試電路板上元器件是否正確及其參數(shù)、電路便裝配是否正確的測(cè)試儀器。由于它不是模擬測(cè)試電路的功能、性能,所以也叫其為電路板的靜態(tài)測(cè)試。
ICT的結(jié)構(gòu)基本上由電腦、測(cè)試電路、測(cè)試壓板及針床和顯示、機(jī)械傳動(dòng)等部分組成。軟件部分是Windows操作系統(tǒng)和ICT測(cè)試軟件。
4、ATE測(cè)試:ATE是Automatic Test Equipment的縮寫,根據(jù)客戶的測(cè)試要求、圖紙及參考方案,采用MCU、PLC、PC基于VB、VC開發(fā)平臺(tái),利用TestStand&LabVIEW和JTAG/Boundary Scan等技術(shù)開發(fā)、設(shè)計(jì)各類自動(dòng)化測(cè)試設(shè)備。
5、AOI光學(xué)測(cè)試 測(cè)試的部分要根據(jù)產(chǎn)品特性來(lái)組合用幾種方式來(lái)測(cè),AOI(Automated Optical Inspection縮寫)的中文全稱是自動(dòng)光學(xué)檢測(cè),是基于光學(xué)原理來(lái)對(duì)焊接生產(chǎn)中遇到的常見缺陷進(jìn)行檢測(cè)的設(shè)備。AOI是新興起的一種新型測(cè)試技術(shù),但發(fā)展迅速,很多廠家都推出了AOI測(cè)試設(shè)備。當(dāng)自動(dòng)檢測(cè)時(shí),機(jī)器通過(guò)攝像頭自動(dòng)掃描PCB,采集圖像,測(cè)試的焊點(diǎn)與數(shù)據(jù)庫(kù)中的合格的參數(shù)進(jìn)行比較,經(jīng)過(guò)圖像處理,檢查出PCB上缺陷,并通過(guò)顯示器或自動(dòng)標(biāo)志把缺陷顯示/標(biāo)示出來(lái),供維修人員修整。AOI將減少修理成本將避免報(bào)廢不可修理的電路板,
華榮華電子科技有限公司經(jīng)營(yíng):PCB探針、ICT測(cè)試針、BGA雙頭針、非標(biāo)探針、pogo pin、5G高頻探針、射頻探針、大電流探針、開關(guān)探針、夾片探針、及各種測(cè)試配件;及供應(yīng):德國(guó)INGUN探針、美國(guó)QA探針、臺(tái)灣CCP探針和CPM探針、及POGO PIN探針。產(chǎn)品主要應(yīng)用于各類電子產(chǎn)品的測(cè)試及PCB線路板的測(cè)試。
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